名称： 高分辨透射电子显微镜
型号： JEM-2100F
产地： 日本
出品厂商：日本电子株式会社（JEOL）
技术参数：
    1.电子枪类型：肖特基场发射电子枪；
    2.加速电压：200 kV，120 kV；
    3.分辨率：点分辨率0.19 nm，线分辨率0.1 nm；
    4.测角台：α/β倾转±25度；
    5.STEM：分辨率0.2 nm。
主要功能：
    固体样品形貌、电子衍射、衍衬分析；高分辨电子显微像观察；应用扫描附件可获取stem明/暗场像，及原子序数衬度HAADF分析；配合X射线能谱仪(EDS)进行成分点/线/面分布分析。是从纳米尺度认识材料微观结构的有效手段。