高分辨透射电子显微镜

作者: 时间:2019年07月05日 14:49 点击数:

名称: 高分辨透射电子显微镜
型号: JEM-2100F
产地: 日本
出品厂商:日本电子株式会社(JEOL)
技术参数:
    1.电子枪类型:肖特基场发射电子枪;
    2.加速电压:200 kV,120 kV;
    3.分辨率:点分辨率0.19 nm,线分辨率0.1 nm;
    4.测角台:α/β倾转±25度;
    5.STEM:分辨率0.2 nm。
主要功能:
    固体样品形貌、电子衍射、衍衬分析;高分辨电子显微像观察;应用扫描附件可获取stem明/暗场像,及原子序数衬度HAADF分析;配合X射线能谱仪(EDS)进行成分点/线/面分布分析。是从纳米尺度认识材料微观结构的有效手段。

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